[15a-S2_202-1~10] CS.1 2.3 加速器技術・加速器質量分析・ビーム分析、7.4 イオンビーム一般のコードシェアセッション

11:00 〜 11:15

[15a-S2_202-8] 単分散mPEGを用いたAr-GCIBスパッタリングによる分子損傷の加速電圧依存性

〇(M2)水谷 優里¹、松尾 二郎¹、瀬木 利夫¹ (1.京大院工)

キーワード：

二次イオン質量分析、クラスターイオンビーム