講演情報
[16a-S4_203-10]電子エネルギー損失分光法を用いた単層グラフェン端における選択的終状態マッピングのコントラスト変化について
〇岩清水 千咲1、越野 雅至2、末永 和知1 (1.阪大産研、2.産総研)
キーワード：
電子エネルギー損失分光、走査型透過電子顕微鏡、単層グラフェン
STEM-EELS法を用いて、単層グラフェン端構造における電子状態マッピングを行った。理論的にコントラスト差が生じないとされていたが、炭素C K-ELNESマップに明確なコントラスト差が現れることを実験的に確認した。本講演では、定性的な解釈を議論しながら、その有用性を示す。