講演情報

[16p-PA4-9]Ge-on-Si(111)上の歪みSiGe膜の歪み分布評価

〇加藤 惠太郎1、溝口 稜太1、長尾 優希1、萩原 智大1、石橋 脩悟1、相川 茉由1、山田 道洋1、浜屋 宏平2,3、澤野 憲太郎1 (1.東京都市大、2.阪大基礎工 CSRN、3.阪大 OTRIスピン)

キーワード:

SiGe