講演情報

[17p-W8E_307-3]Canny法の発展によるAFM像の基準表面形状の精密推定

〇奥泉 陽斗1、シモン レニッシュ1、ロカ ロネル1、神谷 格1 (1.豊田工大)

キーワード:

量子構造、原子間力顕微鏡、画像処理

GaAs(001)上のInAs 量子ドット(QD)の高さ分布解析には、原子間力顕微鏡が広く用いれているが、基板表面の凹凸などによってその同定は容易ではない。本研究では、画像処理のCanny法を発展させ、AFM像からQDのない表面(基準表面)を推定することにより、QD高さ分布の解析を行った。推定された基準表面はQDのない表面形状を精度良く推定し、QD高さ分布解析の精度向上を確認した。