[C-15] エレクトロニクスシミュレーション

11:15 〜 11:30

[C-15-09] 回路画像の多段階領域分割に基づく特徴抽出手法と分類性能の評価

髙山 悠太¹、〇赤田 拓磨¹、藤森 和博¹ (1. 岡山大)

キーワード：

マイクロ波平面回路、機械学習、画像解析、特徴抽出