2024年電子情報通信学会総合大会
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15:30 〜 15:45

[A-8-07]LSTM型時系列データの予測モデルによるオーダーメイド型EV抵抗工場の不良品数推移予測

○代田 悠馬1、上條 康佑1、田邉 造1、石垣 綾2 (1. 公立諏訪東京理科大学、2. 東京理科大学)
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キーワード：

不良品予測、IoT、機械学習、Long Term Short Memory、時系列データ

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