[A-8] 信号処理

15:30 〜 15:45

[A-8-07] LSTM型時系列データの予測モデルによるオーダーメイド型EV抵抗工場の不良品数推移予測

○代田 悠馬¹、上條 康佑¹、田邉 造¹、石垣 綾² (1. 公立諏訪東京理科大学、2. 東京理科大学)

キーワード：

不良品予測、IoT、機械学習、Long Term Short Memory、時系列データ