[B-2] 宇宙・航行エレクトロニクス

11:30 〜 11:45

[B-2-20] マイクロ波道路内部非破壊検査のための異物目標の位置形状及び複素誘電率同時推定法

〇井上 浩¹、木寺 正平¹ (1. 電気通信大学)

キーワード：

マイクロ波、逆散乱解析法、非破壊検査

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