2025年電子情報通信学会総合大会

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2025年3月25日〜3月28日東京都市⼤学世⽥⾕キャンパス
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2025年3月25日〜3月28日東京都市⼤学世⽥⾕キャンパス

[C-14-16]相互相関計測に基づく雑音低減化法の電気光学計測への適用

◎熊澤 航1、石原 健翔1、久武 信太郎1(1. 岐阜大学)

キーワード：

電気光学計測、相関、信号対雑音比

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