[C-3_C-4] 光エレクトロニクス／レーザ・量子エレクトロニクス

11:30 〜 11:45

[C-3_C-4-48] MZ光変調器の相互変調歪を用いたFashion-MNISTの画像認識性能評価

〇近本 祐介¹、田中 英明¹、高橋 英憲¹、釣谷 剛宏¹ (1. KDDI総合研究所)

キーワード：

光AI、光ニューラルネットワーク、エクストリームラーニングマシン、相互変調歪

閲覧にはパスワードが必要です