日本地質学会第133年学術大会
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講演情報

[T9-P-3]顕微鏡スケールでの水平割れ目の特徴について

*竹内 真司1、佐藤 一良1 (1. 日本大学)

キーワード：

水平割れ目、割れ目密度、顕微鏡スケール、画像解析、地質環境

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