[GS02-2] 伝熱シンポジウム_電子機器の冷却2

11:05 〜 11:20

[GS02-2-01] ロックインサーモグラフィ式レーザー周期加熱法によるパワー半導体用放熱基板の界面熱抵抗測定

〇藤田 涼平¹、丹伊田 春海¹、小舘 直人²、永治 仁²、内田 圭²、長野 方星¹ (1. 名古屋大学、2. （株）U-MAP)

キーワード：

接触・界面熱抵抗、ロックインサーモグラフィ、レーザー周期加熱法、パワー半導体、赤外線サーモグラフィ