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[GS02-2-01]ロックインサーモグラフィ式レーザー周期加熱法によるパワー半導体用放熱基板の界面熱抵抗測定

〇Ryohei Fujita1, Niida Haruumi1, Naoto Kodate2, Masashi Nagaya2, Kei Uchida2, Hosei Nagano1 (1. Nagoya Univ., 2. U-MAP)

Keywords:

接触・界面熱抵抗,ロックインサーモグラフィ,レーザー周期加熱法,パワー半導体,赤外線サーモグラフィ