[OS6-2] 伝熱シンポジウム_濡れ現象の制御と理解2

11:35 〜 11:50

[OS6-2-03] Development of a High-Spatial-Resolution Fluid Slip Measurement Method Using Atomic Force Microscopy

〇石田 遥也¹、手嶋 秀彰¹、李 秦宜¹、高橋 厚史¹ (1. 九州大学)

キーワード：

Fluid slip、Atomic force microscopy、Solid-liquid interfaces

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学会誌「伝熱」2025年4月号掲載もしくは事前にメールで送付されているパスワードを入力ください