セッション詳細
分析・計測１
2025年7月3日(木) 14:45 〜 15:30
C(天王星)
座長:佐藤 泰(産総研)
[2C09-11-01]自動滴下装置を用いて製造したベータ線表面放出率標準面線源の品質評価及び表面汚染サーベイメータ校正への適用評価
〇石下 燎矢1、新井 香純1、森 大輝1、吉葉 友規1、三家本 隆宏1 (1. （公社）日本アイソトープ協会)
[2C09-11-02]高純度GAGGシンチレータを用いた160Gdの二重ベータ崩壊探索
〇飯田 崇史1 (1. 筑波大)
[2C09-11-03]ディジタル式4πβ-4πγ同時スぺクトロスコピシステムの構築
〇前川 羽瑠1、添田 悠也1、山田 崇裕1,2 (1. 近畿大・院総理工、2. 近畿大・原子力研)