[19p-D903-1~15] 12.2 評価・基礎物性

14:45 〜 15:00

[19p-D903-5] Tender XAFS測定による有機半導体薄膜評価

〇瀬戸山 寛之¹、渡辺 剛²、佐藤 龍斗³、吉本 則之³、廣沢 一郎¹ (1.九州シンクロ、2.JASRI、3.岩手大理工)

キーワード：

Tender XAFS,DNTT,有機TFT

Tender X線吸収分光法（Tender XAFS）は高真空を必要とせず、元素選択的な化学状態や配位環境の情報を得る手法である。本手法を用いてTop contact型DNTT TFTの連続駆動によるDNTTの化学状態への影響を検討した。測定に当たって事前に、DNTT薄膜試料の繰り返しTender XAFS測定を行い、X線照射によるDNTT薄膜試料の有意な変性の懸念が起こらないことを確認した。