[22a-A309-1~9] 3.11 ナノ領域光科学･近接場光学（旧3.12）

9:30 〜 9:45

[22a-A309-3] Kretschmann配置下の散乱光測定による金セミシェル構造の光学的配置の計測

〇渡辺 智貴¹、岡本 敏弘²、山口 堅三²、原口 雅宣² (1.徳島大院、2.徳島大pLED)

キーワード：

プラズモニクス,散乱光測定,セミシェル