講演情報

[22a-C501-8]SiO2/Si基板上の超伝導デバイス間におけるフォノン伝播の研究

〇(M1)飯塚 竜也1、水柿 義直1、島田 宏1 (1.電通大情報理工)

キーワード:

フォノン,伝播経路,超伝導デバイス

本研究ではSiO2/Si基板上に作製した超伝導量子干渉計(SQUID)と単一クーパー対トランジスタ(SCPT)を用いてフォノンの発生、検出実験を温度T≃70mK下で行った。SQUIDはフォノン発生器、SCPTはフォノン検出器として機能する。デバイス間でのフォノンの伝播経路を特定するために、デバイス間のSiO2層のエッチング溝の有無によるフォノン到達度の比較を行った。測定結果は表面デバイス間ではフォノンがSiO2層を伝播していることを示している。