講演情報
[22p-B205-5]温度可変in-situ測定で解明するPh-BTBT-Cn薄膜の構造再配列
〇岡 昂徹1、塩谷 暢貴1、丸山 伸伍2、長谷川 健1 (1.京大化研、2.東北大院工)
キーワード：
赤外分光法,SmE相,有機半導体
本研究では有機半導体材料であるPh-BTBT-Cn（n = 4, 6, 8, 10, 12）のスピンコート膜について，X線回折法（XRD）および赤外分光法（IR）を用いた温度可変in-situ測定により，構造再配列にアルキル側鎖が果たす役割を検討した．XRDによる結晶多形の議論とIRスペクトルによる官能機単位での議論を組み合わせることで，アルキル側鎖が結晶構造の転換に果たす役割を解明する．