[23a-A308-1~10] CS.5 3.10 フォトニック構造・現象、3.12 半導体光デバイスのコードシェアセッション

9:15 〜 9:30

[23a-A308-1] 2次元フォトニック結晶レーザの円形欠陥におけるAlGaO_xクラッド層の酸化幅に関する研究

〇左 如氷¹、潟口 宗誠¹、葉 漢嶠¹、木下 諒星¹、森藤 正人¹、梶井 博武¹、丸田 章博¹、近藤 正彦¹ (1.阪大院工)

キーワード：

酸化,閾値

既存の情報通信システムでは、データの伝送と処理能力に限界を迎えた。我々はこの問題を解決するために2次元フォトニック結晶（PhC）円形欠陥（CirD）を有する電流注入型レーザの研究・開発を行っている。CirD共振器の中心にあるAlGaAsファンネルから電流を注入すると、Whispering Gallery Mode（WGM）がCirD共振器外周で発生する。AlGaAsファンネルの面積は、AlGaAsをAlGaO_xに酸化する時間を調整することで制御できる。低電子抵抗と閾値を確保するためには、適切な酸化幅の範囲が重要である。本研究では、違う酸化幅をもつCirDレーザを作製し、光励起による閾値パワーと酸化幅の関係から最適な酸化幅を実験的に明らかにした。