講演情報

[23a-A311-5]Cr2Ge2Te6におけるTHz電場誘起ナノスケール相変化

〇金 唐逸1、河路 瑞生1、玉置 亮1、草場 哲1、王 吟麗2、双 逸3、須藤 祐司2,3、片山 郁文1、武田 淳1 (1.横浜国大院理工、2.東北大工、3.東北大材料科学高等研究所)

キーワード:

相変化メモリ,カルコゲナイド薄膜,走査型トンネル顕微鏡