講演情報
[23p-A305-12]近接測定による単粒子蛍光体の光学特性評価
〇高橋 向星1、武田 隆史1、広崎 尚登1 (1.物材機構)
キーワード：
単粒子診断,光ファイバ,近接測定
蛍光体単粒子の光学特性を精度よく評価できる近接測定法を確立した。分光Xe光源と瞬間測光装置に接続した単線光ファイバを単粒子試料に1mm以下まで近接させることにより、高いS/N比で蛍光スペクトルが測定できた。さらに先端を球形に加工した光ファイバを用いて励起光を集光することにより、大幅に測定効率が向上できた。測定強度は粒子径の3乗に比例し、実用蛍光体では1.2µmの小さな粒子でも測定評価できた。