講演情報

[1B13]放射性廃棄物の減容化に向けたガラス固化技術の基盤研究(137)軟X線領域XAFS測定による模擬廃棄物ガラス評価

*永井 崇之1、岡本 芳浩1、柴田 大輔2、朝倉 清高2、長谷川 毅彦3、佐藤 誠一3、菊地 哲也4、畠山 清司4 (1. JAEA、2. 立命館大学SRセンター、3. 検査開発、4. E&Eテクノサービス)

キーワード:

ガラス固化、ホウケイ酸ガラス、XAFS、ラマン分光、LA-ICP、ホウ素、ケイ素、セリウム

閲覧にはパスワードが必要です

ログイン
または

コメント

コメントの閲覧・投稿にはログインが必要です。ログイン