[1B13-16] ガラス固化2

15:50 〜 16:05

[1B13] 放射性廃棄物の減容化に向けたガラス固化技術の基盤研究（137）軟X線領域XAFS測定による模擬廃棄物ガラス評価

*永井 崇之¹、岡本 芳浩¹、柴田 大輔²、朝倉 清高²、長谷川 毅彦³、佐藤 誠一³、菊地 哲也⁴、畠山 清司⁴ (1. JAEA、2. 立命館大学SRセンター、3. 検査開発、4. E&Eテクノサービス)

キーワード：

ガラス固化、ホウケイ酸ガラス、XAFS、ラマン分光、LA-ICP、ホウ素、ケイ素、セリウム

模擬廃棄物ガラス塊の凝固表層と切断面のB，Si，Ce等をXAFS測定し，部位による元素の化学状態の変化を評価するとともに，ガラス塊の凝固表層断面をLA-ICP分析し，表面から深さ方向の組成変化を確認した．