[2B09-13] デブリ2

14:45 〜 15:00

[2B09] 放射光マイクロビームの同一視野XRF、XRD、XAFSを用いた元素、化合物、価数のマッピング分析手法の構築と応用

*谷田 肇¹、遠藤 瞭²、秋山 大輔²、岡本 芳浩¹、桐島 陽² (1. JAEA、2. 東北大)

キーワード：

放射光、マイクロビーム、マッピング、化合物、価数

SPring-8の高輝度放射光を用いて、X線を1マイクロメートルに集光し、微小試料に対して、マッピング測定を行い、蛍光X線による元素マップとX線回折による化合物マップを取得し、特定の位置でのX線吸収スペクトルを測定して、元素の価数評価を行うシステムを構築した。このシステムを1F模擬デブリ粒子試料に適用した。このシステムは大気圧下、非破壊で、電子顕微鏡よりもバルクの情報を得ることができ、粒子中の元素の帯同性と化合物、結晶構造、酸化状態との相関を得ることが出来る。将来的には、温度、湿度、ガス雰囲気を変えた測定も可能である。