[8I] マルチメディア

14:30 〜 14:55

[8I-05] ユニバーサル基板を使用した電子回路の不良原因推定に向けた深層学習による電子部品とその端子検出

*小泉 天翔¹、林 哲矢¹、田中 剛¹、遠藤 雅樹¹、寺田 憲司¹、大野 成義¹ (1. 職業能力開発総合大学校)

発表者区分：学生
種別：ロングペーパー
インタラクティブ発表：あり

キーワード：

ユニバーサル基板、不良原因推定、電子部品検出、深層学習、物体検出