[C-12] 集積回路

9:00 〜 9:15

[C-12-01] 22 nm bulk プロセスにおけるNMOS,PMOSトランジスタのSEU測定回路のSER評価

〇谷口 宗太郎¹、吉田 圭汰¹、中島 隆一¹、古田 潤²、小林 和淑¹ (1. 京都工芸繊維大学、2. 岡山県立大学)

キーワード：

ソフトエラー、フリップフロップ、SEU

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