[C-2A] マイクロ波A

14:30 〜 14:45

[C-2A-04] GaN-HEMTにおけるトラップの影響のバイアス依存性を考慮したニューラルネットワークベースモデル

〇山口 裕太郎¹、久樂　 顕¹、新庄 真太郎¹、山中 宏治¹ (1. 三菱電機株式会社)

キーワード：

GaN、HEMT、モデル、トラップ、ニューラルネットワーク

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