[P] P212~P240

[P239] 集束イオンビーム加工と画像相関法を用いた局所応力分布の定量評価

*馬場 一誠¹、朴 明験²、八子 早保²、辻 伸泰² (1. 京大工(院生)、2. 京大工)

キーワード：

digital image correlation、focused ion beam、SUS304、local stress

局所ひずみ分布を評価するデジタル画像相関（DIC）法と外力除荷後の残留ひずみを解放するfocused ion beam（FIB）法の組み合わせ手法が、微視的領域の弾性ひずみ分布の取得に応用できる可能性を見出した。