[P] P27~P55

[P48] イオン照射 Sc₂O₃-HfO₂系蛍石型類似相における短範囲規則構造の解析

*川村 光平¹、野口 悠吾¹、石丸 学² (1. 九工大(院生)、2. 九工大)

キーワード：

短範囲規則、照射損傷、結晶性セラミックス、透過型電子顕微鏡、構造解析

本研究ではSc₂O₃-Hf₂O系蛍石型類似相の高速重イオン照射による構造変化を透過電子顕微鏡法により解析した。その結果、損傷領域はマイクロドメインを含む短範囲規則状態であることが明らかとなった。