講演情報
[20p-A309-3]レーザー励起光電子顕微鏡を用いたHfO2系強誘電体の強誘電ドメイン及びその温度変化の観察
〇(D)糸矢 祐喜1、藤原 弘和2、Bareille Cédric3,4、辛 埴4,5、谷内 敏之3,4、小林 正治1,6 (1.東大生研、2.東大物性研、3.東大新領域、4.東大MIRC、5.東大特別教授室、6.東大 d. lab)
キーワード：
強誘電体
HfO2系強誘電体薄膜を作製し、in-situでPEEM像の取得と加熱を繰り返すことで、強誘電体分極ドメインの面内分布の温度変化を観察した。この観察から室温で得られていた強誘電体分極ドメイン由来のコントラストが、キュリー温度に近付くにつれて小さくなることが示された。また、コントラストの変化量の面内分布が観測され、キュリー温度にマイクロスケールの面内分布が存在することが示唆された。