講演情報

[21a-A202-8]トップゲートに自己整合したWOx S/Dを用いた30-50 nm膜厚WSe2バックチャネルpFET

〇梶川 亮介1、川那子 高暢2、宗田 伊理也1、星井 拓也1、角嶋 邦之1、筒井 一生1、若林 整1 (1.東工大工、2.未来研)

キーワード:

二セレン化タングステン,自己整合プロセス