講演情報
[21a-A304-2]単電子輸送のエラーレート評価におけるベイズ推定の活用
〇坂本 剛1、高橋 一斗1、近藤 知宏1、溝口 来成1、小寺 哲夫1、米田 淳1 (1.東工大)
キーワード：
単電子,電荷検出,ベイズ推定
量子ドットを利用した単電子制御技術は量子コンピュータなどの各種量子技術への応用が期待され、単電子制御技術の精度を上げることが必要である。今回、量子ドットを利用した単一電荷輸送のエラー検出精度向上に向けて電荷検出の不確実性を反映できるベイズ推定に注目した。単一電荷輸送の測定データから求めた尤度比の積算時間依存性から、高速な測定においてベイズ推定が有用な領域にある可能性が示唆された。