講演情報
[21p-A304-8]表面顕微鏡法を用いた二次元物質のナノスケール構造解析
〇日比野 浩樹1 (1.関学大工)
キーワード：
低エネルギー電子顕微鏡,二次元物質
低エネルギー電子顕微鏡（LEEM）は、数nmの空間分解能とビデオレートの時間分解能を併せ持つ表面顕微鏡法で、二次元物質の成長機構や構造の解析手法として非常に強力である。我々はこれまで、二次元物質とそのヘテロ構造の成長制御に向け、成長中および成長後の二次元物質の構造をLEEMにより詳細に解析してきた。本発表では、これらの研究例の紹介を通して、LEEMの二次元物質の構造解析手法としての特長を説明する。