講演情報

[21p-B101-7]ScAlMgO4基板上RF-MBE成長InGaN薄膜の極微構造評価

〇山田 泰弘1、久保 祐太1、和田 邑一1、出浦 桃子2、藤井 高志1、荒木 努1 (1.立命館大理工、2.R-GIRO)

キーワード:

透過電子顕微鏡,ScAlMgO4,RF-MBE