講演情報
[21p-C402-11]ダイヤモンド半導体の光電子放出機構とキャリア拡散長評価
塚本 涼太1,2、山川 翔也1,2、加藤 宙光2、加藤 有香子2、小倉 政彦2、長井 雅嗣2、牧野 俊晴2、〇竹内 大輔1,2、庄司 一郎1 (1.中央大院理工、2.産総研)
キーワード：
ダイヤモンド,負性電子親和力,拡散長
ダイヤモンド半導体の固有の性質である負性電子親和力を用い、光電子放出率スペクトルから、3ステップモデルに従い、自由電子や自由励起子の拡散長を求める方法を考案し、実験にて拡散長を評価出来た。