講演情報

[22p-B101-13]UV-C発光帯AlGaN多重量子井戸構造におけるCL強度ラインプロファイルの電流依存性

〇大西 悠太1、山口 竜平1、武居 俊宏1、倉井 聡1、岡田 成仁1、上杉 謙次郎2,3、三宅 秀人4、山田 陽一1 (1.山口大院創成科学、2.三重大研基機構、3.三重大院地域イノベ、4.三重大院工)

キーワード:

AlGaN,カソードルミネッセンス,結晶欠陥