講演情報
[23a-B201-5]組成傾斜AlxGa1-xN (x: 0.77 → 1)チャネルを用いたAlN系分極ドープFET
〇廣木 正伸1、熊倉 一英1、谷保 芳孝1 (1.NTT物性研)
キーワード:
AlN,AlGaN
前回、Al組成下降傾斜AlGaN下地層を有する組成傾斜AlGaNチャネル分極ドープFET構造において、3次元電子スラブ(3DES)が形成されることを報告した。今回、本構造のFET動作について報告する。最大ドレイン電流は70 mA/mmであり、AlN MESFETよりも100倍以上高い値が得られた。オフ状態のリーク電流は4✕10-10 A/mmと非常に低く、108以上の高いオンオフ比も得られた。