講演情報

[23p-A602-14]Al/Si0.2Ge0.8(111)上に偏析したSiおよびGeの光電子分光分析

〇(M2)酒井 大希1、大田 晃生2、田岡 紀之3、牧原 牧原1、山本 裕司4、宮﨑 誠一1 (1.名大院工、2.福岡大理、3.愛工大、4.IHP)

キーワード:

SiGe,XPS,偏析