講演情報

[23p-A602-6]Ge-on-Si(111)上の歪みSiGe/Ge多重量子井戸形成における臨界膜厚の増加とクラック発生の抑制

〇金澤 伶奈1、菊岡 柊也1、芝原 夕夏1、我妻 勇哉1、山田 道洋3,4,5、浜屋 宏平2,3,5、澤野 憲太郎1 (1.東京都市大学、2.阪大基礎工、3.阪大CSRN、4.JST さきがけ、5.阪大 OTRI)

キーワード:

半導体,SiGe,多重量子井戸