セッション詳細
[18p-P03-1~11]6.6 プローブ顕微鏡
2024年9月18日(水) 13:30 〜 15:30
P03 (展示ホールA)
[18p-P03-4]水素終端Si(100)表面上のSiナノ領域の2探針STM測定
〇小野田 穣1、Livadaru Lucian2、Wolkow Robert2,3、Pitters Jason4 (1.福岡教育大、2.アルバータ大、3.Quantum Silicon Inc.、4.カナダ国立研究評議会)
[18p-P03-5]出力極性制御を適用したSNDMポテンショメトリによる半導体キャリア分布測定
〇宮戸 祐治1、野崎 博樹2、間山 憲仁2 (1.龍谷大 先端理工、2.東芝ナノアナリシス)
[18p-P03-7]電気化学プローブを駆使した二次元材料における電極触媒能の高機能化
〇熊谷 明哉1,2,3,4、小川 寛人3、井田 大貴5、李 昊2、宮田 耕充6、高橋 康史5,7、珠玖 仁3、若山 裕8 (1.千葉工大、2.東北大AIMR、3.東北大院工、4.JSTさきがけ、5.名大工、6.都立大理、7.金沢大学NanoLSI、8.物材機構)