セッション詳細

[18p-P03-1~11]6.6 プローブ顕微鏡

2024年9月18日(水) 13:30 〜 15:30
P03 (展示ホールA)

[18p-P03-1]パルスフォース原子間力顕微鏡を用いた発生胚のメカニクス測定

〇(M2)小谷 崇博1、山本 実季1、垣内 琢規1、野島 拓樹1、岡嶋 孝治1 (1.北大情報科学)
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[18p-P03-2]二重円偏光変調光誘起力顕微鏡による銅フタロシアニン分子のキラルマップの取得

〇松谷 和歩1、山田 喬昭1、菅原 康弘1 (1.阪大院工)
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[18p-P03-3]原子間力顕微鏡によるアモルファス氷表面形状測定:昇温による表面形状の変化

〇日高 宏1、都丸 琢斗1、渡部 直樹1 (1.北大低温研)
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[18p-P03-4]水素終端Si(100)表面上のSiナノ領域の2探針STM測定

〇小野田 穣1、Livadaru Lucian2、Wolkow Robert2,3、Pitters Jason4 (1.福岡教育大、2.アルバータ大、3.Quantum Silicon Inc.、4.カナダ国立研究評議会)
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[18p-P03-5]出力極性制御を適用したSNDMポテンショメトリによる半導体キャリア分布測定

〇宮戸 祐治1、野崎 博樹2、間山 憲仁2 (1.龍谷大 先端理工、2.東芝ナノアナリシス)
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[18p-P03-6]高温条件下におけるPdナノクラスターの接触電位差測定

〇石川 涼雅1、菅原 康弘1、李 艶君1 (1.阪大院工)
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[18p-P03-7]電気化学プローブを駆使した二次元材料における電極触媒能の高機能化

〇熊谷 明哉1,2,3,4、小川 寛人3、井田 大貴5、李 昊2、宮田 耕充6、高橋 康史5,7、珠玖 仁3、若山 裕8 (1.千葉工大、2.東北大AIMR、3.東北大院工、4.JSTさきがけ、5.名大工、6.都立大理、7.金沢大学NanoLSI、8.物材機構)
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[18p-P03-8]積層セラミックコンデンサのArイオンミリング加工による状態変化とケルビンプローブフォース顕微鏡による可視化

〇相蘇 亨1、稲木 由紀1 (1.(株)日立ハイテク)
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[18p-P03-9]二重円偏光変調光誘起力顕微鏡の開発

〇高柳 圭佑1、山田 喬昭1、菅原 康弘1 (1.阪大院工)
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[18p-P03-10]高温炎エッチングによるタングステン探針の単結晶化

〇新井 豊子1、宇都宮 信彦1、中野 陽平1、富取 正彦2 (1.金沢大自然、2.北陸先端科技大)
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[18p-P03-11]探針増強ラマン分光用Au蒸着カンチレバー探針の作製と性能評価

〇(M1)李 碩磊1、張 開鋒2、小林 圭1 (1.京大工、2.日立製作所)
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