講演情報

[10a-P05-1]AlNバッファ層を用いたBGaN中性子検出器の作製と評価

〇鈴木 隆介1、工藤 涼兵1、及川 徹1、小久保 瑛斗2、若林 源一郎3、本田 善央4、天野 浩4、井上 翼1、青木 徹5、中野 貴之5 (1.静大院工、2.名大院工、3.近大原研、4.名大IMaSS、5.静大電研)

キーワード:

BGaN、AlN、半導体検出器