講演情報
[7a-P01-4]2次元X線検出器を用いた希薄濃度試料に対する迅速蛍光XAFS計測
〇宇留賀 朋哉1,2、金子 拓真1、井上 朋直3、作村 拓人3、今井 英人1,4、内本 喜晴1 (1.京大人環、2.高輝度セ、3.リガクX研、4.FC-Cubic)
キーワード：
XAFS、蛍光法XAFS、2次元X線検出器
XAFS法は試料内に含まれる測定目的元素のX線吸収スペクトルを計測することにより、化学状態や局所構造情報を元素選択に得ることができる強力な分析手法である。我々は、希薄試料に対し迅速な蛍光XAFS計測を実現する計測システムの開発を進めている。本報告では、蛍光X線検出器として2次元Ｘ線検出器XSPA-400ER（リガク）を用いて行った迅速蛍光XAFS評価実験の結果について報告を行う。