講演情報
[7p-N103-3]半導体デバイスの宇宙線ミューオン起因ソフトエラー研究の現状と展望
〇渡辺 幸信1 (1.九大院総理工)
キーワード：
半導体デバイス、ソフトエラー、宇宙線ミューオン
半導体デバイスの信頼性における最大の問題の一つは、宇宙線起因のソフトエラー問題である。ソフトエラーとは宇宙線に曝された際に生じる一過性の誤動作を指す。微細化・低消費電力化が進むにつれ放射線耐性は低下しており、中性子ばかりでなく、ミューオンによるソフトエラー発生も懸念されている。本発表では、特に負ミューオン起因のソフトエラー現象に着目し、これまでの研究の進展および今後の展望について報告する。