[7p-N104-1~8] ナノスケール計測技術の最前線〜プローブ顕微鏡が拓く極微電子計測

13:30 〜 13:35

[7p-N104-1] オープニング

〇一井 崇¹ (1.京大院工)

キーワード：

プローブ顕微鏡、ナノスケール計測

プローブ顕微鏡による電子物性計測技術は急速に発展を遂げ、空間分解能・時間分解能が飛躍的に向上し、半導体を中心とするさまざまな電子材料に応用されています。本シンポジウムでは、その最先端で活躍されている研究者を招き、これまでの技術的な進展から最新の研究動向と将来展望について紹介いただきます。