セッション詳細
[7p-N104-1~8]ナノスケール計測技術の最前線〜プローブ顕微鏡が拓く極微電子計測
2025年9月7日(日) 13:30 〜 17:05
N104 (共通講義棟北)
[7p-N104-1]オープニング
〇一井 崇1 (1.京大院工)
[7p-N104-2]時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡が拓く半導体物性のナノスケール計測
〇山末 耕平1 (1.東北大通研)
[7p-N104-3]走査プローブ顕微鏡を用いた超高速ダイナミクス計測の最前線
〇吉田 昭二1 (1.筑大数物)
[7p-N104-4]静電気力顕微鏡と光誘起力顕微鏡の最近の展開
〇菅原 康弘1、李 艶君1 (1.阪大院工)
[7p-N104-5]テラヘルツ電場駆動トンネル電流による単一分子励起状態形成
〇木村 謙介1,2 (1.理研SISL、2.東大応化)
[7p-N104-6]ヘテロダイン法による走査型インピーダンス顕微鏡の広周波数帯測定化と全固体電池解析への応用
〇山岸 裕史1、蒲生 浩忠1、前田 泰1、城間 純1、清林 哲1、竹市 信彦1、佐野 光1 (1.産総研)
[7p-N104-7]時間分解ケルビンプローブフォース顕微鏡による有機薄膜トランジスタの微視的電気特性評価
〇小林 圭1 (1.京大工)
[7p-N104-8]静電気力顕微鏡による電荷移動計測
〇松本 卓也1 (1.阪大院理)