[8a-N206-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

9:30 〜 9:45奨励賞エントリー

[8a-N206-3] STM-TERS によるジフェニルヘリセンの表面吸着構造の同定

〇平野 裕人¹、服部 卓磨¹、Ye Changqing¹、Krukowski Pawel²、齋藤 彰¹、大須賀 秀次³、桑原 裕司¹ (1.阪大院工、2.ウッジ大学、3.和歌山大シス工)

キーワード：

走査プローブ顕微鏡、探針増強ラマン散乱、キラリティ

本研究では、立体的なヘリセン誘導体の表面周期構造における分子配向から、分子スケールでのキラル認識メカニズムを考察した。Ag(111)基板上のジフェニルヘリセンについて、STMおよび探針増強ラマン散乱測定を行い、さらに、DFT計算を元にした、理論計算によるラマンスペクトル形状と比較することにより、分子の配向や官能基の向きを含めた吸着構造の詳細な特定に成功した。