講演情報
[8p-N307-2]AFM-IRによる偏光測定で解明する熱転化型ベンゾポルフィリン薄膜の局所分子配列
〇(DC)岡 昂徹1、塩谷 暢貴1、上野 創1、山内 光陽1、山田 容子1、長谷川 健1 (1.京大化研)
キーワード：
有機半導体、原子間力顕微鏡法、赤外分光法
<!--StartFragment-->ベンゾポルフィリン誘導体は優れた有機半導体材料であり，前駆体法を用いることで幅広い製膜手法が適用できる．前駆体材料の反応過程については多くの先行研究が存在するものの，薄膜中の構造分布に注目した例は少ない．本研究では，AFM画像中の微小領域IRスペクトルを測定するAFM-IRを用いて構造解析を行った．その結果，反応生成物が形成するドメイン構造のマッピングに成功し，さらにその分子配列を明らかにした．