[8p-N403-1~15] CS.1 2.3 加速器技術・加速器質量分析・ビーム分析、7.4イオンビーム一般のコードシェアセッション

15:15 〜 15:30

[8p-N403-7] 結晶表面ストリッパーによる炭素イオンの荷電変換と干渉分子の解離

〇神野 智史¹、松原 章浩²、藤田 奈津子¹、木村 健二¹ (1.原子力機構、2.ペスコ)

キーワード：

加速器質量分析、斜入射イオン散乱、結晶表面

AMSの小型化は、低エネルギーでのガスストリッパー使用時にビーム発散やバックグラウンド増大が課題となる。我々はこれを解決するため、結晶表面ストリッパー法を開発した。KCl、SnTe、Au(111)を用いた実験の結果、特にAu(111)で荷電変換効率と分子解離効率の向上が確認された。詳細は講演で報告する。