[8p-P02-1~15] 6.6 プローブ顕微鏡

[8p-P02-9] Au(110)基板に吸着したフラーレンの構造変化観察

〇(B)川井 遼太¹、和田 光翔¹、佐伯 直哉¹、片野 諭¹ (1.東洋大理工)

キーワード：

フラーレン、表面拡散、走査トンネル顕微鏡

Au(110)基板上に吸着させた室温下におけるフラーレン（C₆₀）を走査トンネル顕微鏡（STM）でリアルタイム観察した。本講演では、Au(110)基板上のC₆₀の表面拡散によって誘起された特異な表面構造とその形成過程について報告する。