[9p-P03-1~29] 3.7 光計測技術・機器

[9p-P03-1] 複数光源を用いた光干渉断層計による断層構造と水分の同時計測

〇河野 竜也¹、小馬 啓輔¹、尾崎 信彦¹ (1.和歌山大シス工)

キーワード：

光干渉断層計、近赤外、水分量計測