[16a-K405-1~9] 12.5 有機・ハイブリッド太陽電池

9:30 〜 9:45

[16a-K405-3] 正孔回収単分子膜の界面電子準位と基板の仕事関数との関係

〇赤塚 有杜¹、チョン ミンアン²、若宮 淳志²、吉田 弘幸^1,3 (1.千葉大院工、2.京大化研、3.千葉大MCRC)

キーワード：

界面電子準位、正孔回収材料、単分子膜材料

逆型ペロブスカイト太陽電池の正孔回収単分子膜(HCL)の電子準位は、成膜条件によって変わると考えられてきた。本研究では、仕事関数(WF)が異なる3つの基板上に成膜したHCLの電子準位を観測し、HCLのHOMO準位やWFは、基板の WF に連動して変化することを見出した。このことから、HCLの電子準位の違いは、成膜方法や膜構造ではなく、電極のWFによるものと考えられる。